光學干涉檢測,光學干涉測试報告

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概况描摹丈量：用於丈量物體概况的粗拙度、平整度、曲率等参数，合用於工件加工質量節制和光學元件制造等范畴。

位移和形變丈量：檢測物體或布局在受力或温度變革下的细小位移、形變，如機器零件的變形阐發和布局件的應力測试。治療滑膜炎,

薄膜厚度丈量：用於丈量透明薄膜或涂层的厚度，如半导體工業中的薄膜沉积節制和光學镀膜質量评估脫髮治療,。

光學参数丈量：丈量光學元件的折射率、反射率等光學特征，對光治療蕁麻疹,學體系的機能举行優化和调解。